快速高低溫沖擊實(shí)驗(yàn)箱，因?yàn)闇囟瓤梢噪S時(shí)變化做試驗(yàn)，所以也能稱它為溫沖溫變箱。此設(shè)備的主要特點(diǎn)是溫度試驗(yàn)可以設(shè)定快速?zèng)_擊及快速變化，快可以在3秒鐘內(nèi)從高溫變到低溫，5分鐘內(nèi)完成沖擊 效果。破壞能力強(qiáng)，功率比普通高低溫試驗(yàn)箱高出許多倍。所以技術(shù)難度及成本也相對(duì)高許多。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品，以及其元器件等各類產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在高溫與低溫瞬間變化條件下，對(duì)原產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬試驗(yàn)，試驗(yàn)后，通過檢測(cè)，來判斷相關(guān)產(chǎn)品的性能是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供各類產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

標(biāo)準(zhǔn)型型號(hào)（另：可根據(jù)客戶要求定做）：

LQ-TS--80 內(nèi)箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440。

LQ-TS--150 內(nèi)箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540。

LQ-TS--250 內(nèi)箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640。

LQ-TS-S-480 內(nèi)箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150。

快速高低溫沖擊實(shí)驗(yàn)箱｜半導(dǎo)體高低溫沖擊試驗(yàn)箱的測(cè)控系統(tǒng)：

1.控制器： 7寸觸屏中英文顯示器+PLC﹙控制軟件﹚+溫控模塊。

2.運(yùn)行方式：程序方式。

﹙1﹚控制對(duì)象 試驗(yàn)區(qū)曝露溫度。

高溫恒溫區(qū)預(yù)熱溫度。

低溫恒溫區(qū)預(yù)熱溫度。

低溫恒溫區(qū)除霜溫度。

﹙2﹚指示精度 0.1℃。

﹙3﹚輸 入 熱電偶 TDIN。

﹙4﹚控制方式 微電腦PID+SSR控制。

3.設(shè)定方式：中文菜單，觸摸屏方式輸入。

4.程序容量：100組程式，每個(gè)程序3步；每個(gè)程序可設(shè)1000次循環(huán)，循環(huán)設(shè)定9999cycles。

5.設(shè)定范圍：預(yù)熱預(yù)冷箱區(qū)。

高溫室預(yù)熱溫度上限：+200℃。

低溫室預(yù)冷溫度下限：-75℃。

試驗(yàn)室﹙試樣區(qū)﹚。

溫度沖擊上限：+150℃。

溫度沖擊下限：-65℃。

6.顯示分辨率：溫度：0.1℃ 時(shí)間：0.1min。

7.通訊功能：RS-232接口及USB接口，具有本地和遠(yuǎn)程通訊功能。

8.控制方式：抗積分飽和PID，模糊算法；BTC平衡調(diào)溫控制方式。

9.附屬功能：故障報(bào)警及原因、處理提示功能、超溫保護(hù)、故障記錄、上下限溫度保護(hù)、傳感器上下風(fēng)選擇、斷電保護(hù)、試驗(yàn)暫停、報(bào)警輸出、時(shí)間信號(hào)輸出，試驗(yàn)結(jié)束輸出、溫度到達(dá)輸出、定時(shí)啟動(dòng)及自動(dòng)停止功能、自診斷功能。

所滿足的標(biāo)準(zhǔn)有以下:

GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫;GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 2423.22-2002溫度變化;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則;SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備;GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高低溫試驗(yàn)導(dǎo)則;GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則;GJB150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分高溫試驗(yàn);GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn);GJB 150.5A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn);GJB367.2-1987 通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗(yàn)方法;GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn);IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化;EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估;QC/T 17-1992 汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則 汽車行業(yè)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)等等包括其它產(chǎn)品行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。