簡要描述:非標(biāo)芯片冷熱沖擊測(cè)試箱是金屬、塑料、橡膠、電子,汽車零配件等材料行業(yè) 的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng) 高溫及 低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在 短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。滿足試驗(yàn)方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。
產(chǎn)品分類
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品牌 | 柳沁科技 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
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產(chǎn)品新舊 | 全新 | 尺寸 | 300*300*300 |
非標(biāo)芯片冷熱沖擊測(cè)試箱是金屬、塑料、橡膠、電子,汽車零配件等材料行業(yè) 的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng) 高溫及 低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在 短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。滿足試驗(yàn)方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。高低溫沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)需求及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室,蓄熱室和試驗(yàn)室,產(chǎn)品在測(cè)試時(shí)是放置在試驗(yàn)室。兩箱式分為高溫室和低溫室,是通過電機(jī)帶動(dòng)提籃運(yùn)動(dòng)來實(shí)現(xiàn)高低溫的切換,產(chǎn)品放在提籃里,是隨提籃一起移動(dòng)的。
非標(biāo)芯片冷熱沖擊測(cè)試箱
參數(shù)詳情:
測(cè)試驗(yàn)環(huán)境條件:環(huán)境溫度10℃---+30℃,相對(duì)濕度≤85%
高溫室:預(yù)預(yù)熱溫度范圍 60℃~+180℃
升高溫時(shí)間:60℃~+180℃≤60min注:升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能
低溫室:預(yù)預(yù)冷溫度范圍 (-70℃~0℃)
降低溫時(shí)間:(+20℃→-60℃)≤60min注:降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能
試驗(yàn)室(試樣區(qū)):試試驗(yàn)方式 氣動(dòng)風(fēng)門切換2溫區(qū)或3溫區(qū)
溫度沖擊范圍:(+60~+120)℃/(-40~-10)℃
溫度波動(dòng)度:±0.5℃
溫度偏差:±2.0℃(傳感器存放于風(fēng)道出口處)
溫度恢復(fù)時(shí)間:≤5min
恢復(fù)條件 傳感器位置:試樣的上風(fēng)側(cè)
高溫曝露:+100℃:30分鐘,低溫曝露:-40℃:30分鐘
試樣重量:30.0Kg(發(fā)熱量不超過50W)
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