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  • LQ-TS非標(biāo)芯片冷熱沖擊測(cè)試箱
    LQ-TS非標(biāo)芯片冷熱沖擊測(cè)試箱

    非標(biāo)芯片冷熱沖擊測(cè)試箱是金屬、塑料、橡膠、電子,汽車零配件等材料行業(yè) 的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng) 高溫及 低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在 短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。滿足試驗(yàn)方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。

    更新時(shí)間:2024-04-07型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS節(jié)能型冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    LQ-TS節(jié)能型冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    節(jié)能型冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理變化。適用于金屬,塑料,橡膠,電子等材料。

    更新時(shí)間:2024-04-07型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS多功能冷熱沖擊控制箱
    LQ-TS多功能冷熱沖擊控制箱

    多功能冷熱沖擊控制箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn):GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。

    更新時(shí)間:2024-04-07型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS鋰電池冷熱溫度沖擊箱
    LQ-TS鋰電池冷熱溫度沖擊箱

    鋰電池冷熱溫度沖擊箱又名溫度沖擊試驗(yàn)箱是電工電器、航空、汽車、家電、涂料、科研等領(lǐng)域的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行溫度急速變化沖擊試驗(yàn),看產(chǎn)品試驗(yàn)后的參數(shù)及性能是否合格。

    更新時(shí)間:2024-04-07型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊實(shí)驗(yàn)箱
    LQ-TS芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊實(shí)驗(yàn)箱

    芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊實(shí)驗(yàn)箱是一種模擬自然界溫度急 劇變化的試驗(yàn)設(shè)備,通過它能測(cè)試產(chǎn)品在溫度快速變化的過程中所受到的物理和化學(xué)方面的損害,從而發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在的質(zhì)量問題,進(jìn)而對(duì)其改進(jìn)優(yōu)化。冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)是金屬、塑料、航空、航天、橡膠、電子等材料行業(yè)*的試驗(yàn)設(shè)備。

    更新時(shí)間:2024-04-07型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS工業(yè)冷熱溫變沖擊試驗(yàn)箱
    LQ-TS工業(yè)冷熱溫變沖擊試驗(yàn)箱

    工業(yè)冷熱溫變沖擊試驗(yàn)箱廣泛用於電子電器零元件、自動(dòng)化零部件、通訊元件汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)航太、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳電子晶片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品於熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的元件,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

    更新時(shí)間:2024-04-07型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS觸摸屏自動(dòng)冷熱沖擊測(cè)試箱
    LQ-TS觸摸屏自動(dòng)冷熱沖擊測(cè)試箱

    觸摸屏自動(dòng)冷熱沖擊測(cè)試箱又名溫度沖擊試驗(yàn)箱是電工電器 汽車、家電、涂料、科研等領(lǐng)域的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行溫度急速變化沖擊試驗(yàn),看產(chǎn)品試驗(yàn)后的參數(shù)及性能是否合格。

    更新時(shí)間:2024-04-07型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS左右移動(dòng)式冷熱沖擊溫循箱
    LQ-TS左右移動(dòng)式冷熱沖擊溫循箱

    左右移動(dòng)式冷熱沖擊溫循箱的用途 :適用于電子、電工產(chǎn)品和其他產(chǎn)品設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn),也是篩選電子元器件初期故障的助手。

    更新時(shí)間:2024-04-07型號(hào):LQ-TS
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